產品簡介
LEI Model2017B，通過汞探針接觸方法，對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。

產品型號：LEI Model2017B

更新時間：2025-12-24

廠商性質：生產廠家

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

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Capability:

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特殊設計的肖特基接觸，使串聯電阻最小。
精確的真空控制

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