LST體微缺陷測試設備

產品簡介
LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。

Name: LST體微缺陷測試設備
Brand: 波銘科儀
Availability: InStock

產品型號：

更新時間：2025-12-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：1697

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

顯微熒光成像系統能夠在微觀尺度上揭示生物和化學過程的細節

詳細介紹在線留言

Capability:

物鏡自動調節
納米級移動
對缺陷濃度和尺寸更加靈敏
測試尺寸:20nm到15nm
缺陷濃度:1e5-2.5e10cm^–³

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：LEIModel1605非接觸遷移率測試系統